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1台仪器实现分歧丈量前提下的高速查抄
● 1台仪器实现LCR丈量、DCR丈量、扫描丈量等的陆续丈量和高速查抄
● LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速丈量
● 根基精度±0.08%的高精度丈量
● 合用于压电元件的共振个性查抄、职能性高分子电容的C-D和低ESR丈量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的丈量
● 分析仪模式下可进行扫频丈量、电平扫描丈量、功夫距离丈量
● 能够用于无线充电评价系统TS2400
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