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       在尝试室和晶圆测试环境中测试 Si、SiC 和 GaN MOSFET
，确保安全、精准和急剧

。相识在设计当选取 SiC 和 GaN 导致的测试挑战以及若何解决它们的更多信息

。相识若何大幅度降低终产品的功耗和大幅度耽搁电池寿命

。缩短设计的上市功夫

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