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　　系统概述:

　　SP26D系列是新锐中科公司结合泰克的产品特点和优势，开发出的满足IEC60747-8/9、JESD2尺度的半导体动态参数分析系统
。旨在援手工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等必要半导体动态参数的场景所遇到的难题
。出格对于第三代半导体的测试，LET2000D有着较高的系统带宽和测试精度，能够有效正确的丈量涌现实的器件参数
。

　　系统组成:

　　新锐中科动态参数分析仪，重要蕴含PC、示波器、低压源、高压直流源、探头以及有关测试配件等组成
。SP26D半导体测试系统选取12bit示波器，可正确反映波形细节和参数的正确推算，且具备高带宽的电压和电流探测特点，能满足SiC/GaN的丈量要求，同时能够满足上/下管测试要求，可预防频仍衔接探头
。该系统丈量参数齐全，且支持多衷祺件类型
。