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　　在半导体领域，电源治理芯片老化测试是评估器件靠得住性和筛选潜在缺点的沉要环节，通过仿照极端工况加快芯片老化以露出资料、工艺或设计中的幽微点

。随着电子设备的不休幼型化和高机能的钻营，半导体芯片在各类利用场景中表演着越来越关键的角色

。为了预防芯片在持久运行过程中可能出现的机能降落、甚至失效等问题，进行老化测试显得尤为沉要

。

　　老化测试

　　老化测试通常蕴含静态测试及动态测试，静态老化指芯片处于非工作模式下，重要通过施加恒定的电压和温度来进行测试

。这种步骤成本较低，但监控的电路节点数量有限

。动态老化指芯片处于工作状态下，向其提供输入激励信号，通过检测有关信号来判定芯片在老化状态下的工作情况

。动态老化更切近现实利用环境，可能对内部电路施加更多压力，检测出更多的故障

。

　　设备需要

　　老化测试对测试设备的需要蕴含：

　　1、必要仿照器件在现实工作中的各类工况，如分歧的电压、电流和温度前提，以评估其在持久运行下的机能变动

。

　　2、测试过程中必要对器件的多项参数进行精确丈量以确保其切合设计要求和行业尺度

。

　　3、为了提高测试效能，多通路的集成规划有助于同时对多个器件进行老化测试

。

　　4、使用节能的规划以降低测试成本，节约能源亏损

。

　　在老化测试中，由电源对待测物进行供电，电子负载进行拉载，固然电源及负载能够选择高效能产品以降低测试仪器自身的功耗，但这个节能的比例并不高

。而回馈式电子负载能够将拉载的直流电转化为合格的互换电送回本地电网再次使用，从测试道理上大幅降低测试成本，拥有显著的节能成效

。

　　“多通路+回馈式”老化新规划

　　目前市面上的回馈式负载通常功率较大，用于500W以内的产品老化测试并不相宜

。艾德克斯面向日益增长的高效节能测试需要，新品IT2700多通路源载仿照系统创新推出了"多通路+回馈式"的老化新规划，回馈效能高达90%，拥有壮大的系统集成及多通路节造能力

。

　　IT2700系列老化测试专门设计的负载规划蕴含1U的机架式主机框IT2704,可包容多达8个200W模组或4个500W模组，每个模组均可独立节造


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？，一样
？橹鞔硬⒘纱2kW或240A

。

　　IT2700系列回馈式电子负载模组也拥有丰硕的负载职能：

       1、支持CC,CV,CP,CR,CC+CV,CR+CV,CP+CV,CC+CR,AUTO,BSIM（电池仿照）多种工作模式

。

　　2、高达50kHz表部数据纪录职能，提高测试效能

。多输出/单输出仪表显示、示波器显示、数据纪录显示、支持V/I的均匀值，幼值和大值，并推算所有输出的P，Ah和Wh值

。

　　3、list职能、肆意波形、扫描正弦波、肆意波序劣注恒定驻留肆意波、负载瞬态、电池测试、OCP和OPP测试

。

　　4、输出开启/关关序列化、Watchdog职能、支持输出耦合

。全面；ぃ篛VP,UVP,OCP,OPP,OTP,UCP,Foldback职能，支持；ゑ詈

。

　　5、标配LAN、USB、CAN通讯接口、数字I/O接口，支持表接U盘，支持SCPI和谈

。

　　艾德克斯IT2700多通路回馈式电子负载凭借其高精度、多通路、矫捷配置和便捷操作蹬着势，成为半导体芯片及功率器件老化测试的梦想选择，为确保器件的持久不变性和靠得住性提供了有力保险

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