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　　热发射显微镜(Thermal EMMI)系统是通过接管故障点产生的热辐射异常来定位故障点地位，当被测物体高于绝对零度时，会不休向表辐射电磁波，系统利用红表探测器和光学成像物镜接受被测指标的红表辐射能量散布图形，并将其反映到红表探测器的光敏元件上，从而获得红表热像图。这种热像图与物体表表的热散布场相对应，从而实现对故障点的精确定位。

　　我们自主研发的Thermal EMMI系统，集成了多项高端技术组件，蕴含高活络度的红表相机、多种倍率可选的显微镜镜头以及精确的凹凸压源表等。这些组件共同赋予了该系统超凡的活络度、高精度的温度丈量能力以及无损故障定位的个性。在半导体芯片、先进封装技术、功率电子器件以及印刷电路板(PCB)等领域的失效分析过程中，Therma EMMI系统阐扬着举足轻沉的作用，它不仅可能急剧正确地定位故障点，还能有效提升产品质量和靠得住性，是电子工业中不成或缺的精密检测工具。