

产品简介:
SP26系列半导体参数分析仪是?款半导体电学个性测试系统,拥有?精度、宽丈量领域、急剧矫捷、兼容性强蹬着势。产品能够同时?持DC电流‐电压(I‐V)、电容‐电压(C‐V)以及?流?压下脉冲式I‐V个性的测试,旨在援手加快前沿资料钻延注半导体芯?器件设计以及先进?艺的开发,拥有卓越的丈量效能与靠得住性。
基于?榛南低辰峁股杓,SP26系列半导体参数分析仪能够援手?户凭据测试必要,矫捷选配丈量单元进?升级。产品?持?1200V电压、100A?电流、1pA?电流分辨率的丈量,同时检测10kHz?3MHz领域内的多频AC电容丈量。
SP26系列半导体参数分析仪采?专业半导体参数测试软件,?持交互式?动操作或结合探针台的?动操作,可能从丈量设置、执?、了局分析到数据治理的整个过程,实现?效和可沉复的器件表征;也可与?低温箱、温控?榈却钆涫?,满??低温测试需要。
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