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　　泰克及旗下吉时利品牌，提供从晶元到系统的专业半导体测试规划。蕴含半导体资料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。

　　半导体资料测试平台蕴含：

　　针对晶元级半导体资料或半导体器件，泰克提供半导体参数分析仪（4200A-SCS），用于测试分离器件、资料的三大个性：1、直流个性，如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等； 2、电容电压个性CV曲线（CVU）；3脉冲个性测试(PMU)，支持超高速脉冲测试。支持以上个性的多通路同步测试。

　　针对高功率半导体资料或半导体器件，泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪（2600B-PCT），或称晶体管曲线追踪仪，支持高压、高流等前提下直流个性IV曲线、电容电压个性CV曲线测试。

　　半导体工艺测试平台蕴含：

　　针对大规模测试，如晶元上多点测试，复杂系统的自动化测试，泰克提供自动化半导体参数测试系统（S500/S530/S540），支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。宽泛用于晶元的失效分析测试（FA）,质量节造测试（QA），靠得住性分析测试（RA）。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。

　　芯片设计测试平台蕴含：

　　针对高速串行芯片设计，泰克提供齐全的发送端测试解决规划，建设高带宽实时示波器、各类探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的尺度覆盖各类常用尺度，蕴含：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

　　芯片验证测试平台蕴含：

　　针对高速串行芯片设计，泰克提供齐全的接管端容限测试解决规划，建设高速误码率分析仪，及一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的尺度覆盖各类常用尺度。