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PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减 ，是电池组件封装资料和其上表表及下表表的资料 ，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁徙 ，而造成组件机能衰减的景象。本系统通过持久监测其漏电流的情况 ，确保组件在达到肯定的机能衰减后提出报警 ，测试出组件的使用寿命水平 ，使其能保障组网的安全运行。PID的测试尺度是凭据IEC62804 光伏组件机能测试尺度、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试尺度结合而成。
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减 ，是电池组件封装资料和其上表表及下表表的资料 ，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁徙 ，而造成组件机能衰减的景象。本系统通过持久监测其漏电流的情况 ，确保组件在达到肯定的机能衰减后提出报警 ，测试出组件的使用寿命水平 ，使其能保障组网的安全运行。PID的测试尺度是凭据IEC62804 光伏组件机能测试尺度、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试尺度结合而成。
技术参数
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型号 |
ZC1608 |
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系统配置 |
1台主控推算机 ，1~8台多路电势差诱导功衰测试仪 (ZC1608)(可选配) |
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| 大可接入路数 |
64路 ，少选配一台测试机(ZC1608)为8路 ，多选配8台测试机(ZC1608 ，ZC1616 ，ZC1624 ，ZC1632)为64路。 |
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老化试验功夫 |
0000:00:00~9999:59:59h ，可肆意设定 ，试验功夫实现 ，自动堵截输出。 |
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| 实时监控职能 |
8~64路同时监测 ，自动纪录并实时显示试验参数。 |
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故障忠告 |
屏幕上状态栏显示故障原因 ，漏电流报警。 |
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人机界面 |
表置推算机 ，独立显示器 |
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仪器接口 |
LAN |
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直流电压 |
±2000V |
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电压分辨率 |
1V |
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大限额电流 |
1mA/ 通路 |
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漏电检解析度及丈量领域 |
0.01uA~1uA |
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过流 ；ぁ⒐贡 ；ぁ⒍搪繁 ； |
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