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PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装资料和其上表表及下表表的资料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁徙，而造成组件机能衰减的景象 。本系统通过持久监测其漏电流的情况，确保组件在达到肯定的机能衰减后提出报警，测试出组件的使用寿命水平，使其能保障组网的安全运行 。PID的测试尺度是凭据IEC62804 光伏组件机能测试尺度、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试尺度结合而成 。
技术参数
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型号 |
ZC1608 |
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系统配置 |
1台主控推算机，1~8台多路电势差诱导功衰测试仪 (ZC1608)(可选配) |
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| 大可接入路数 |
64路，少选配一台测试机(ZC1608)为8路，多选配8台测试机(ZC1608，ZC1616，ZC1624，ZC1632)为64路 。 |
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老化试验功夫 |
0000:00:00~9999:59:59h，可肆意设定，试验功夫实现，自动堵截输出 。 |
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| 实时监控职能 |
8~64路同时监测，自动纪录并实时显示试验参数 。 |
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故障忠告 |
屏幕上状态栏显示故障原因，漏电流报警 。 |
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人机界面 |
表置推算机，独立显示器 |
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仪器接口 |
LAN |
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直流电压 |
±2000V |
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电压分辨率 |
1V |
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大限额电流 |
1mA/ 通路 |
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漏电检解析度及丈量领域 |
0.01uA~1uA |
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过流；ぁ⒐贡；ぁ⒍搪繁； |
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